Sie möchten Oberflächen, Strukturen und Zusammensetzungen bis in den Nanometerbereich analysieren? Mit unserer Dienstleistung im Bereich Rasterelektronenmikroskopie (REM/SEM) erhalten Sie präzise Bilder und analytische Informationen zu Topografie, Morphologie und Materialkontrast Ihrer Proben – ohne eigene Geräte anschaffen zu müssen.
Ob klassische thermische REMs oder hochmoderne Feldemissionsgeräte (FE-SEMs) von ZEISS: Wir nutzen leistungsstarke Mikroskope wie ZEISS GeminiSEM oder ZEISS Sigma, um Ihre Fragestellungen in Forschung, Entwicklung oder Qualitätssicherung gezielt zu beantworten – vom Materialscan bis zur nanoskaligen Schadensanalyse.
Ihre Vorteile auf einen Blick
Hochauflösende Bildgebung bis in den Subnanometerbereich
Ideal zur Visualisierung feiner Oberflächendetails und Nanostrukturen.
Materialkontrast & Elementanalytik
Kombinierte Bildgebung und EDX-Analytik für strukturierte Werkstoffanalysen.
Niedrige Spannungen, maximale Auflösung
Detaillierte Bilder auch bei empfindlichen Proben durch Imaging unter 1 kV.
Analytische Präzision durch moderne EDX-Geometrien
Für schnelle und exakte Ergebnisse bei Partikelanalysen und Werkstoffprüfungen.
Automatisierte In-situ-Experimente möglich
Ideal für Serienanalysen, Deformationsversuche oder Echtzeituntersuchungen.
Typische Einsatzbereiche & Branchen
- Materialforschung & Werkstofftechnik
Korrosionsanalysen, Mikrostrukturuntersuchungen, Phasenabgrenzung. - Halbleiter & Elektronik
Fehleranalysen, Strukturvergleiche, Schichtdickenvisualisierung. - Nanotechnologie & Mikroelektronik
Untersuchung von Nanopartikeln, Dünnschichten oder Nanokomponenten. - Biowissenschaften & Medizin
Zellstrukturen, biologische Membranen, organische Werkstoffe. - Geowissenschaften & Rohstoffanalytik
Mineralbestimmungen, Oberflächenmorphologie, Probenkartierung. - Industrie & Qualitätssicherung
Partikelanalysen, Bruchkantenbewertungen, Rückstände, Schichtaufbau.
Sie möchten tiefer blicken? Wir liefern die Bilder dazu.
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